Un nouvel outil de TASKING Tricore / AURIX Inspector sera prochainement disponible, intégré dans l’environnement de développement logiciel de l’éditeur TASKING pour une analyse de votre application multi-core embarquée, afin de vérifier le respect de SIL-2/3/4. Un webinaire sera organisé le 31 mars 2022 à 09h30, pour une durée de 30 mn suivi d’une session […]
TASKING SMARTCODE
Un nouvel environnement de développement logiciel de l’éditeur TASKING pour une application multi-core, dédié la famille des microcontrôleurs AURIX TC4X du semiconducteur Infineon… Pour plus d’informations sur Smartcode, enregistrez-vous et participer au webinaire organisé par TASKING, le 27 janvier 2022 à 09h30. Consultez notre page dédiée à TASKING.
Qu’est-ce que le DFX et pourquoi ?
DFX, abréviation de Design For X, s’écrit également Design for Excellence ou Design For Excellence (DfX ou DFX). Dans l’industrie de la fabrication électronique, DFM (Design for Manufacture) et DFA (Design for Assembly) sont deux méthodes de conception NPI (New Product Introduction) couramment utilisées. Pour assurer la fabricabilité de la conception et la bonne qualité […]
TASKING Embedded Profiler v1.1r1 disponible
Après avoir débuggé minutieusement votre application embarquée, vous pourriez quand même rencontrer des problèmes de performances et de synchronisation. De nombreux problèmes de synchronisation peuvent être résolus simplement en améliorant les performances qui entraînent le non-respect des timings. Un moyen simple de résoudre ces problèmes est le réglage des performances. TASKING Embedded Profiler est un […]
Comment éviter la défaillance de batterie ?
Les batteries rechargeables sont utilisées aujourd’hui dans de nombreux systèmes électroniques, telles que l’alimentation des téléphones portables, l’alimentation de secours pour les équipements de télécommunications et industriels… La panne de batterie peuvent poser de sérieux problèmes de sécurité et entraîner la défaillance d’équipements critiques. Des exemples bien connus sont le Samsung Galaxy note 7 et […]
Pourquoi un équipement électronique peut-il tomber en panne après une période de non-fonctionnement ?
La fiabilité de l’équipement est généralement mesurée par le temps moyen entre les pannes (MTBF) ou la probabilité de panne en fonction du temps, où le temps mesure les heures de fonctionnement. Lorsqu’un équipement électronique n’est pas utilisé, un utilisateur peut couper l’alimentation, s’attendant à ce que la prochaine fois que l’appareil soit allumé, il […]
Nouvelles règles de vérification dans DFM Expert de Vayo
Voici une liste non exhaustive des règles d’analyse ajoutées en 2021 dans DFM Expert de Vayo, afin de pouvoir renforcer l’analyse DFM de votre carte électronique avant la fabrication… Typical use: Check multiple components are assembled on a shared pad Description: Shared pad is a normal design, such as two chip components share one pad, […]
TASKING supporte déjà les futurs microcontrôleurs Aurix TC4xx d’Infineon
L’éditeur d’outils de programmation et de débogage TASKING propose une une plate-forme de programmation d’applications multicœurs pour les microcontrôleurs Aurix de troisième génération de la société Infineon. L’environnement SmartCode, destiné à optimiser les performances des applications critiques pour la sécurité dans l’automobile, est actuellement en beta test, elle sera disponible en même temps de la […]
Revoir le webinaire du 18/02/2021 sur les solutions de TASKING
La société TASKING propose une série de webinaires sur ses solutions pour le développement d’applications embarquées dans le secteur d’automobile… In part I of this three part webinar series, we will examine a popular automotive use case (EPS-Motor Control) and show how the TASKING portfolio of embedded software development tools can simplify the design process […]
Intégrité thermique de la carte DRV8305-Q1EVM de chez Texas Instrument
Attribute is the DC resistance, which then determines voltage drop and power dissipation and possibly even influences the 3D current distribution. Instead of entering nets and components individually, this allows us to model the path of current from plus to minus with lower effort and in a more physically correct way. In the end, we […]